Method for Analyzing Effective Polishing Frequency and Times for Chemical Mechanical Planarization Polishing Wafer with Different Polishing Pad Profiles

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資料識別:
A06022262
資料類型:
期刊論文
著作者:
林榮慶(Lin, Zone-ching) 陳健忠(Chen, Chein-chung)
主題與關鍵字:
Chemical mechanical polishing CMP Compensation Image Binary 化學機械研磨 晶圓
描述:
來源期刊:中國機械工程學刊
卷期:26:6 民94.12
頁次:頁671-676
日期:
20051200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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