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XeF準分子雷射退火之低溫多晶矽薄膜再結晶特性研究與分析
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資料識別:
A06020132
資料類型:
期刊論文
著作者:
郭啟全(Kuo, Chil-chyuan) 葉文昌(Yeh, Wen-chang) 鄭正元(Jeng, Jeng-ywan) 陳佳斌(Chen, Chia-bin)
主題與關鍵字:
XeF準分子雷射退火 相變化 表面形貌 XeF excimer laser annealing Phase transformation Surface morphology
描述:
來源期刊:明志學報
卷期:37:2 民95.01
頁次:頁17-23
日期:
20060100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
郭啟全(Kuo, Chil-chyuan) 葉文昌(Yeh, Wen-chang) 鄭正元(Jeng, Jeng-ywan) 陳佳斌(Chen, Chia-bin)(20060100)。[XeF準分子雷射退火之低溫多晶矽薄膜再結晶特性研究與分析]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/35/3c.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4c/35/3c.html
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