半導體製程技術學習效果分析
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- 資料識別：
- A06000671
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 張順教(Chang， S. C.) 呂承恩(Lu， C. E.)
- 主題與關鍵字：
- 跨代外溢學習效果 參數模型 半參數模型 Spillover effect Semi-parametric model Parametric model
- 描述：
- 來源期刊:產業論壇
- 卷期:7:4 民94.12
- 頁次:頁115-131
- 日期：
- 20051200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
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