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A Journey in the Atomic-Scale Microstructure of Materials Using Atom-Probe Tomography
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後設資料
資料識別:
A05003695
資料類型:
期刊論文
著作者:
Blavette,D. Pareige,C. Cadel,E. Auger,P. Deconihout,B.
描述:
來源期刊:Chinese Journal of Physics
卷期:43:1(2) 民94.02
頁次:頁132-144
日期:
20050200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
Blavette,D. Pareige,C. Cadel,E. Auger,P. Deconihout,B.(20050200)。[A Journey in the Atomic-Scale Microstructure of Materials Using Atom-Probe Tomography]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4b/d1/ac.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4b/d1/ac.html
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