類比/混合訊號之內建式自我測試電路
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- 資料識別：
- A05054229
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 陳昱辰
- 主題與關鍵字：
- IC設計 可量測性設計 Design for testability DfT
- 描述：
- 來源期刊:零組件雜誌
- 卷期:165 民94.07
- 頁次:頁76-78+80
- 日期：
- 20050700
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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