EMC天線參數與天線校正關係
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- 資料識別：
- A05025571
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 蔡榮鈞
- 主題與關鍵字：
- 電磁相容 天線因子 標準測試場地 發射天線因子 替代測試場地 雙天線因子 正規化場地衰減 標準場地法
- 描述：
- 來源期刊:電子檢測與品管
- 卷期:63 民94.07
- 頁次:頁54-64
- 日期：
- 20050700
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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