針對產業應用之掃描探針顯微鏡--需求與技術瓶頸的突破
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- 資料識別：
- A05013214
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 朱怡銘 吳兆棋
- 主題與關鍵字：
- 掃描式探針顯微鏡 原子力顯微鏡 磨耗 Scanning probe microscopes Atomic force microscopes Wear
- 描述：
- 來源期刊:機械工業
- 卷期:267 民94.06
- 頁次:頁108-118
- 日期：
- 20050600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
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