光擾對掃描電容顯微術之影響分析
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- 資料識別：
- A04028104
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 張茂男(Chang， Mao-nan) 羅吉志(Luo， Ji-jr) 陳志遠(Chen， Chih Yuan) 貢中元(Kung， Chung-yuan)
- 主題與關鍵字：
- 光擾 掃描電容顯微術
- 描述：
- 來源期刊:科儀新知
- 卷期:26:1=141 民93.08
- 頁次:頁56-62
- 日期：
- 20040800
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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