EMI/EMC量測天線因子（A.F.）實務應用
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- 資料識別：
- A04027830
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 董光天
- 主題與關鍵字：
- 天線因子 電磁干擾輻射 電磁耐受性 電子產品 檢測 電磁干擾 電磁相容性 EMI EMC RE RS
- 描述：
- 來源期刊:電子檢測與品管
- 卷期:59 民93.07
- 頁次:頁56-59
- 日期：
- 20040700
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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