如何量測並消弭記憶體元件中的軟錯？
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- 資料識別：
- A04026605
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- Mastipuram，Ritesh
- 主題與關鍵字：
- 記憶體元件 軟錯 半導體元件 雜訊脈衝 資料流失 Soft errors
- 描述：
- 來源期刊:零組件雜誌
- 卷期:155 民93.09
- 頁次:頁76-77+80-81
- 日期：
- 20040900
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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