奈米表面檢測技術之回顧
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- 資料識別：
- A04001407
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 蘇健穎(Su， Chien-ying) 林宇軒(Lin， Yu-hsuan)
- 主題與關鍵字：
- 奈米表面檢測 掃描探針顯微術 近場光學顯微術
- 描述：
- 來源期刊:科儀新知
- 卷期:25:4=138 民93.02
- 頁次:頁99-108
- 日期：
- 20040200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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