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奈米粉體粒徑檢測方法簡介
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後設資料
資料識別:
A04020195
資料類型:
期刊論文
著作者:
蘇志杰
主題與關鍵字:
奈米粉體 動態光散射粒徑分析儀 掃描探針顯微鏡 電子顯微鏡 Nanopowder/nanoparticle SPM Scanning probe microscopy Dynamic light scattering particle size distribution analyzer Electronic microscopy
描述:
來源期刊:機械工業
卷期:255 民93.06
頁次:頁131-139
日期:
20040600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
蘇志杰(20040600)。[奈米粉體粒徑檢測方法簡介]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/dc/36.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/dc/36.html
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