新世代穿透式電子顯微鏡試片製備技術於磁、光電及半導體元件實務應用

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資料識別:
A04014286
資料類型:
期刊論文
著作者:
黃榮潭(Huang, Rong-tan) 江正誠(Chiang, Cheng-cheng) 殷開明(Yin, Kai-min) 開執中(Kai, Ji-ju) 陳福榮(Chen, Fu-rong)
主題與關鍵字:
磁元件 光電元件 半導體元件 穿透式電子顯微鏡 TEM
描述:
來源期刊:科儀新知
卷期:25:5=139 民93.04
頁次:頁46-58
日期:
20040400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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