新世代穿透式電子顯微鏡試片製備技術於磁、光電及半導體元件實務應用

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A04014286
資料類型:
期刊論文
著作者:
黃榮潭(Huang, Rong-tan) 江正誠(Chiang, Cheng-cheng) 殷開明(Yin, Kai-min) 開執中(Kai, Ji-ju) 陳福榮(Chen, Fu-rong)
主題與關鍵字:
磁元件 光電元件 半導體元件 穿透式電子顯微鏡 TEM
描述:
來源期刊:科儀新知
卷期:25:5=139 民93.04
頁次:頁46-58
日期:
20040400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

中醫藥對慢性病毒性肝炎療效評估之研究
總計畫:中藥材輻射滅菌劑量之評估研究...
Vitrectomy without...
基因、主體與後人文社會規範
過氧亞硝酸根負離子與去氧核醣核酸的化...
臺港華語電影類型的發展及其意義