Robust Two-Degree-of-Freedom Control of an Atomic Force Microscope
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- 資料識別：
- A04011336
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- Schitter，G. Stemmer，A. Allgower，F.
- 主題與關鍵字：
- Nanotechnology Fast scanning AFM Robust control Scanning probe
- 描述：
- 來源期刊:Asian Journal of Control
- 卷期:6:2 民93.06
- 頁次:頁156-163
- 日期：
- 20040600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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