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XPS與SIMS於塗佈紙用印墨成分之分析
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後設資料
資料識別:
A03009199
資料類型:
期刊論文
著作者:
林宗新
主題與關鍵字:
塗佈紙 平版微影 表面分析 X-ray光電子光譜 二次離子質量光譜 表面二次離子質量光譜 XPS SIMS TOFSIMS
描述:
來源期刊:印刷科技
卷期:19:1=87 民92.03
頁次:頁67-82
日期:
20030300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林宗新(20030300)。[XPS與SIMS於塗佈紙用印墨成分之分析]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/b3/4f.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/b3/4f.html
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