An Efficient Test and Diagnosis Scheme for the Feedback Type of Analog Circuits with Minimal Added Circuits

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資料識別:
A03006990
資料類型:
期刊論文
著作者:
林俊偉(Lin, Jun-weir) 李崇仁(Lee, Chung-len) 陳竹一(Chen, Jwu-e)
主題與關鍵字:
震盪測試 回授電路 迴路增益增量 選擇性啟閉運算放大器 正回授迴圈 Oscillation test Feedback type circuit Loop-gain increment Disabling OPs Positive-feedback loops
描述:
來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
卷期:10:1 民92.02
頁次:頁91-98
日期:
20030200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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