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An Efficient Test and Diagnosis Scheme for the Feedback Type of Analog Circuits with Minimal Added Circuits
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後設資料
資料識別:
A03006990
資料類型:
期刊論文
著作者:
林俊偉(Lin, Jun-weir) 李崇仁(Lee, Chung-len) 陳竹一(Chen, Jwu-e)
主題與關鍵字:
震盪測試 回授電路 迴路增益增量 選擇性啟閉運算放大器 正回授迴圈 Oscillation test Feedback type circuit Loop-gain increment Disabling OPs Positive-feedback loops
描述:
來源期刊:Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
卷期:10:1 民92.02
頁次:頁91-98
日期:
20030200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林俊偉(Lin, Jun-weir) 李崇仁(Lee, Chung-len) 陳竹一(Chen, Jwu-e)(20030200)。[An Efficient Test and Diagnosis Scheme for the Feedback Type of Analog Circuits with Minimal Added Circuits]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/ae/66.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/ae/66.html
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