Thermal Stress Analysis of Semiconductor Wafers in Rapid Thermal Processing

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資料識別:
A03051494
資料類型:
期刊論文
著作者:
汪正祺(Wang, Cheng-chi) 駱正穎(Lo, Cheng-ying)
主題與關鍵字:
Thermal stress Finite difference method Wafer 晶圓製程 熱應力分析 半導體製程
描述:
來源期刊:中國機械工程學刊
卷期:24:2 民92.04
頁次:頁127-137
日期:
20030400
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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