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Impact of Nitride Process Conditions on SONOS Flash Devices
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資料識別:
A03046860
資料類型:
期刊論文
著作者:
吳國宏(Wu, Kuo-hong) 陳東昇(Chen, Tung-sheng) 徐庶哲(Hsu, Shu-che) 高進興(Kao, Chin-hsing)
主題與關鍵字:
快閃式記憶體 電荷捕捉效率 SONOS Flash memory Charge-trapping efficiency
描述:
來源期刊:中正嶺學報
卷期:32:1(A) 民92.11
頁次:頁73-80
日期:
20031100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
吳國宏(Wu, Kuo-hong) 陳東昇(Chen, Tung-sheng) 徐庶哲(Hsu, Shu-che) 高進興(Kao, Chin-hsing)(20031100)。[Impact of Nitride Process Conditions on SONOS Flash Devices]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/84/34.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/84/34.html
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