積體電路產品之閂鎖效應測試方法
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- 資料識別：
- A03044264
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 柯明道 彭政傑
- 主題與關鍵字：
- 閂鎖效應 暫態觸發閂鎖效應 互補式金氧半導體 矽控整流器 Transient-induced latchup TLU
- 描述：
- 來源期刊:電子月刊
- 卷期:9:10=99 民92.10
- 頁次:頁163-176
- 日期：
- 20031000
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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