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後設資料
資料識別:
A03044109
資料類型:
期刊論文
著作者:
林芳禾 劉大佼
主題與關鍵字:
X光繞射儀 熱重分析儀 奈米量測 電子顯微鏡 掃瞄式探針顯微鏡 微差掃瞄熱卡計 流變儀
描述:
來源期刊:塑膠資訊
卷期:85 民92.12
頁次:頁2-11
日期:
20031200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林芳禾 劉大佼(20031200)。[奈米量測技術]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/79/71.html(2017/03/24瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/79/71.html
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