掃描探針顯微鏡之原理與應用簡介
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- 資料識別：
- A03040876
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 姚斌誠
- 主題與關鍵字：
- 掃描穿隧電流顯微鏡 原子力顯微鏡 靜電力顯微鏡 磁力顯微鏡 掃描近場光學顯微鏡 掃描電容顯微鏡 Scanning tunneling microscope STM Atomic force microscope AFM Electrostatic force microscopy EFM Magnetic force microscopy MFM Scanning near-field optical microscopy SNOM Scanning capacitance microscopy SCM
- 描述：
- 來源期刊:工業材料
- 卷期:203 民92.11
- 頁次:頁123-128
- 日期：
- 20031100
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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