Structure-Based Specification-Constrained Test Frequency Generation for Linear Analog Circuits
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A03027889
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 張順志(Chang， Soon-jyh) 李崇仁(Lee， Chung-len) 陳竹一(Chen， Jwu E)
- 主題與關鍵字：
- Test pattern generation Analog IC test Structural test Specification test Monte-Carlo analysis
- 描述：
- 來源期刊:Journal of Information Science and Engineering
- 卷期:19:4 民92.07
- 頁次:頁637-651
- 日期：
- 20030700
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
