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自動化IC印字瑕疵檢測(2)--瑕疵辨識
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後設資料
資料識別:
A03027850
資料類型:
期刊論文
著作者:
饒忻(Rau, Hsin) 曾健維(Tzeng, Jiann-wei) 許世麟(Hsu, Shih-lin)
主題與關鍵字:
IC印字 瑕疵辨識 相關匹配法 IC printed mark Defect detection Normalized cross correlation
描述:
來源期刊:工業工程學刊
卷期:20:4 民92.07
頁次:頁327-336
日期:
20030700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
饒忻(Rau, Hsin) 曾健維(Tzeng, Jiann-wei) 許世麟(Hsu, Shih-lin)(20030700)。[自動化IC印字瑕疵檢測(2)--瑕疵辨識]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/5d/b8.html(2017/03/24瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/5d/b8.html
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