III-V晶圓背面蝕刻技術簡介

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A03024454
資料類型:
期刊論文
著作者:
方宏聲 劉品均 陳裕豐
主題與關鍵字:
盲孔蝕刻 感應隅合蝕刻機 反應性離子蝕刻機 Via hole etching ICP etcher RIE etcher
描述:
來源期刊:機械工業
卷期:246 民92.09
頁次:頁120-127
日期:
20030900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

過氧亞硝酸根負離子與去氧核醣核酸的化...
IC光阻材料技術發展
鳳的傳人--論中國上古史的二元對立
佛國淨土與中國神話:莫高窟285窟的...
天下無雙 古今鮮對--晉唐法書名蹟特...
臺灣新文學史(6)--寫實文學與批判...