半導體工廠如何建置符合OHSAS 18001的風險鑑別方法--以臺灣為例
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A03023215
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 曾裕德
- 主題與關鍵字：
- 半導體工廠 風險鑑別 OHSAS 18001
- 描述：
- 來源期刊:工業安全衛生月刊
- 卷期:171 民92.09
- 頁次:頁23-28
- 日期：
- 20030900
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
