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後設資料
資料識別:
A03022271
資料類型:
期刊論文
著作者:
張永嘉 吳文慶
主題與關鍵字:
測試 系統單晶片 SoC
描述:
來源期刊:電工通訊
卷期:民92.09
頁次:頁30-39
日期:
20030900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
張永嘉 吳文慶(20030900)。[SoC測試與可測試設計]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/47/f8.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/47/f8.html
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