A Powerful and Sensitive Gauge for Plasma-Process-Induced Damage in Differential Amplifier Circuit Design
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- 資料識別：
- A03016025
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 王木俊(Wang， Mu-chun) 陳厚銘(Chen， Hou-ming) 蔡政村(Tsai， Cheng-tsun) 洪進華(Hong， Jin-hua)
- 主題與關鍵字：
- 電漿製程 損傷 氧化層 可靠度 天線 差動放大器 Plasma process Damage Oxide Reliability Antenna Differential amplifier
- 描述：
- 來源期刊:大葉學報
- 卷期:12:1 民92.06
- 頁次:頁37-41
- 日期：
- 20030600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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