利用P1500標準克服SoC的測試挑戰

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A03000079
資料類型:
期刊論文
著作者:
黃俊郎
主題與關鍵字:
IC製程 系統晶片測試 SoC
描述:
來源期刊:新電子科技
卷期:202 民92.01
頁次:頁208-213
日期:
20030100
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

年輕成人的肝膿瘍:愛滋病毒感染的線索...
比較中西抗老化藥材在神經退化性疾病之...
撥號選接器監測與管理系統之發展
從西醫觀點論婦科腫瘤
女性荷爾蒙療法與中藥科學中藥處方併用...
天下無雙 古今鮮對--晉唐法書名蹟特...