首頁
部落格
Facebook專頁
ENGLISH
珍藏特展
目錄導覽
技術體驗
成果網站資源
目錄導覽首頁
HOTKEY快速導覽
內容主題
典藏機構
進階搜尋
資源聯盟
首頁
目錄導覽
內容主題
新聞
國圖館藏期刊
首頁
目錄導覽
典藏機構與計畫
國家圖書館
國家圖書館期刊報紙典藏數位化計畫
奈米級先進金屬氧化半導體(MOS)元件的有效通道導電性
推薦分享
資源連結
連結到原始資料
(您即將開啟新視窗離開本站)
後設資料
資料識別:
A02007700
資料類型:
期刊論文
著作者:
黃恆盛(Huang, Heng-sheng) 黃啟聰(Huang, Chi-tsung) 陳信男(Chen, Hsin-nan)
主題與關鍵字:
通道氧化層 通道導電性 C-R方法 有效通道長度 短通道效應 Channel oxide Channel conductance ELJ model C-R method Effective channel length L□ Short channel effect Leff
描述:
來源期刊:臺北科技大學學報
卷期:35:1 民91.03
頁次:頁1-8
日期:
20020300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
黃恆盛(Huang, Heng-sheng) 黃啟聰(Huang, Chi-tsung) 陳信男(Chen, Hsin-nan)(20020300)。[奈米級先進金屬氧化半導體(MOS)元件的有效通道導電性]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/0b/21.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/0b/21.html
評分與驗證
請為這筆數位資源評分
感謝您為這筆數位資源評分,為了讓資料更容易被檢索利用,請選擇和這項數位資源相關的詞彙:
導電性
啟聰
請填入更適合的關鍵詞
推薦藏品
戰國至漢初的儒學傳承--以楚地簡帛為...
試介李勤岸、胡民祥、莊柏林、路寒袖、...
飼糧中黃麴毒素及類胡蘿蔔素對土番鴨腹...
輸電電纜連接站避雷器接地引接方式標準...
臺中港漁港暨濱海遊憩區植被變遷調查報...
鳳的傳人--論中國上古史的二元對立