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穿透式電子顯微鏡微區成份分析技術簡介
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後設資料
資料識別:
A02007361
資料類型:
期刊論文
著作者:
許瓊姿 蔡增光 潘扶民
主題與關鍵字:
穿透式電子顯微鏡 電子能損譜儀 材料分析 EELS
描述:
來源期刊:國科會國家毫微米元件實驗室通訊
卷期:9:1 民91.02
頁次:頁22-31
日期:
20020200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
許瓊姿 蔡增光 潘扶民(20020200)。[穿透式電子顯微鏡微區成份分析技術簡介]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/09/cf.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/4a/09/cf.html
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