Generation Lifetime Improvement in MOS Capacitor by Fast Neutron Enhanced Intrinsic Gettering Technique

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資料識別:
A02003667
資料類型:
期刊論文
著作者:
溫武義(Uen, Wu-yih) 廖森茂(Liao, Sen-mao) 藍山明(Lana, Shan-ming) 邱建珽(Chiou, Jing-ting)
主題與關鍵字:
少數載子生命期 MOS電容 快中子照射 Czochralski矽晶圓 Minority-carrier generation lifetime MOS capacitor Fast neutron irradiation Intrinsic gettering CZ-Si
描述:
來源期刊:中原學報
卷期:30:1 民91.03
頁次:頁93-97
日期:
20020300
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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