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渦電流探頭尺寸與金屬夾層瑕疵檢測信號之關係探討
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後設資料
資料識別:
A02037586
資料類型:
期刊論文
著作者:
戴政祺(Tai, Cheng-chi) 楊弘吉(Yang, Hung-chi)
主題與關鍵字:
渦電流 探頭 非破壞性檢測 掃頻式渦電流 脈衝式渦電流 Eddy current Probes Nondestructive testing Swept-frequency eddy current Pulsed eddy current
描述:
來源期刊:技術學刊
卷期:17:4 民91.12
頁次:頁525-533
日期:
20021200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
戴政祺(Tai, Cheng-chi) 楊弘吉(Yang, Hung-chi)(20021200)。[渦電流探頭尺寸與金屬夾層瑕疵檢測信號之關係探討]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/49/de/6f.html(2024/09/14瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/49/de/6f.html
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