SOC構裝經溫度循環可靠度測試之應力分析
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- 資料識別：
- A02021283
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 邱以泰 錢志回 吳以德 陳聖偉
- 主題與關鍵字：
- 可靠度 疲勞 界面應力 SOC Substrate on chip Reliability Fatigue Interface stress
- 描述：
- 來源期刊:工業材料
- 卷期:187 民91.07
- 頁次:頁156-172
- 日期：
- 20020700
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
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