多變量分析在半導體製程故障偵測之應用
推薦分享
資源連結
連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)後設資料
- 資料識別：
- A02020120
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 葉培青 張耀仁 李文猶
- 主題與關鍵字：
- 多變量分析 幅狀基底函數類神經網路 主成份分析 Multivariate analysis Radial basis function neural networks Principal component analysis
- 描述：
- 來源期刊:機械工業
- 卷期:234 民91.09
- 頁次:頁154-159
- 日期：
- 20020900
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
授權聯絡窗口
- 管理單位：知識服務組-期刊
聯絡E-mail：nclper@ncl.edu.tw
電話：02-23619132轉305
