兩種晶圓缺陷辨識技術之比較
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- 資料識別：
- A02018425
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 黃振榮(Huang， Chenn-jung)
- 主題與關鍵字：
- 晶圓針測 缺陷偵測 中間值過濾器 近鄰分羣 類神經網路 多層感知器 Wafer probing Defect detection Median filter Nearest neighbor clustering Neural networks Multilayer perceptro
- 描述：
- 來源期刊:臺東師院學報
- 卷期:13(上) 民91.06
- 頁次:頁1-22
- 日期：
- 20020600
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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