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DRAM之銲墊上有Polyimide殘留與Memory Cell斑點缺陷分析及目前解決方法
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後設資料
資料識別:
A02014979
資料類型:
期刊論文
著作者:
劉博文(Liu, Bor Wen)
主題與關鍵字:
Polyimide殘留 Memory Cell斑點 缺陷分析 品管目檢 晶片封裝 DRAM OGQC
描述:
來源期刊:吳鳳學報
卷期:10 民91.05
頁次:頁32-37
日期:
20020500
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
劉博文(Liu, Bor Wen)(20020500)。[DRAM之銲墊上有Polyimide殘留與Memory Cell斑點缺陷分析及目前解決方法]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/49/7e/63.html(2017/03/24瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/49/7e/63.html
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