DRAM之銲墊上有Polyimide殘留與Memory Cell斑點缺陷分析及目前解決方法
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- 資料識別：
- A02014979
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 劉博文(Liu， Bor Wen)
- 主題與關鍵字：
- Polyimide殘留 Memory Cell斑點 缺陷分析 品管目檢 晶片封裝 DRAM OGQC
- 描述：
- 來源期刊:吳鳳學報
- 卷期:10 民91.05
- 頁次:頁32-37
- 日期：
- 20020500
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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