TEM影像軟體中畫素對於量測不確定度之影響
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- 資料識別：
- A08002418
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 王尉霖(Wang， Wei-Lin) 葛裕逢(Ko， Yu-Feng) 朱鴻源(Chu， Hong-Yuan)
- 主題與關鍵字：
- 影像軟體 量測 不確定度 穿透式電子顯微鏡 TEM
- 描述：
- 來源期刊:科儀新知
- 卷期:29:3=161 2007.12[民96.12]
- 頁次:頁72-81
- 日期：
- 20071200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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