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利用原子力顯微鏡探討薄膜之表面自由能性質研究
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資料識別:
A08087804
資料類型:
期刊論文
著作者:
孫承正(Sun, Chen-cheng) 李淑齡(Lee, Shu-ling) 陶家瑞(Tao, Chia-rei) 廖坤厚(Liao, Kun-hou) 張銘康(Chang, Ming-kang)
主題與關鍵字:
表面自由能 表面粗糙度 原子力顯微鏡 Surface roughness Surface free energy Atomic force microscopy
描述:
來源期刊:航空技術學院學報
卷期:7:1 2008.08[民97.08]
頁次:頁231-236
日期:
20080800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
孫承正(Sun, Chen-cheng) 李淑齡(Lee, Shu-ling) 陶家瑞(Tao, Chia-rei) 廖坤厚(Liao, Kun-hou) 張銘康(Chang, Ming-kang)(20080800)。[利用原子力顯微鏡探討薄膜之表面自由能性質研究]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/da/98.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/da/98.html
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