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Global-to-Local Modeling and Experiment Investigation of a HFCBGA Package Board-level Solder Joint Reliability
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後設資料
資料識別:
A08087738
資料類型:
期刊論文
著作者:
伍紹鈞(Wu, Shao-chiun) 陳精一(Chen, Ching-i)
主題與關鍵字:
有限元素法 高功率覆晶封裝 錫球接點可靠度 疲勞壽命 Finite element method HFCBGA package Solder joint reliability Fatigue life
描述:
來源期刊:航空技術學院學報
卷期:7:1 2008.08[民97.08]
頁次:頁45-56
日期:
20080800
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
伍紹鈞(Wu, Shao-chiun) 陳精一(Chen, Ching-i)(20080800)。[Global-to-Local Modeling and Experiment Investigation of a HFCBGA Package Board-level Solder Joint Reliability]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/da/68.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/da/68.html
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