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應用多次抽樣平均數管制圖於破壞性試驗製程之效益評估
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後設資料
資料識別:
A08084720
資料類型:
期刊論文
著作者:
李佩熹(Lee, Pei-hsi) 童超塵(Torng, Chau-chen)
主題與關鍵字:
多次抽樣平均數管制圖 統計性設計 IC封裝 焊線接合製程 破壞性檢驗 Multiple sampling [90b4] charts Statistical design IC packaging Wirebonding process
描述:
來源期刊:科技管理學刊
卷期:13:2 2008.06[民97.06]
頁次:頁95-112
日期:
20080600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
李佩熹(Lee, Pei-hsi) 童超塵(Torng, Chau-chen)(20080600)。[應用多次抽樣平均數管制圖於破壞性試驗製程之效益評估]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/d4/49.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/d4/49.html
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