Test Algorithm and BIST Design for MRAM Write Disturbance Fault
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- 資料識別：
- A08072024
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- Chen， Ching-yi Lo， Wan-yu Su， Chin-lung Wu， Cheng-wen
- 主題與關鍵字：
- Built-in self-test BIST Fault model Magnetic random access memory MRAM Memory testing Write disturbance fault
- 描述：
- 來源期刊:International Journal of Electrical Engineering
- 卷期:15:2 2008.04[民97.04]
- 頁次:頁63-70
- 日期：
- 20080400
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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