工作要求-資源模式與工作倦怠關係之研究--以某半導體封裝測試公司員工為例

推薦分享

Share

資源連結

連結到原始資料 (您即將開啟新視窗離開本站)

後設資料

資料識別:
A08071337
資料類型:
期刊論文
著作者:
孫德修(Sun, Te-hsiu) 趙正敏(Chao, Chen-min) 廖木燦(Liao, Mu-tsan)
主題與關鍵字:
半導體封裝測試 工作要求 工作資源 工作倦怠 Semiconductor assembly and testing Job demands Job resources Burnout
描述:
來源期刊:朝陽學報
卷期:13 2008.09[民97.09]
頁次:頁1-29
日期:
20080900
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

引用這筆典藏 引用說明

引用資訊
直接連結

評分與驗證

請為這筆數位資源評分

star star star star star

推薦藏品

天下無雙 古今鮮對--晉唐法書名蹟特...
臺灣中部蓮華池地區低海拔常綠闊葉林4...
人類幹細胞研究的法議題
西方人本主義倫理與基督教思想
女性荷爾蒙療法與中藥科學中藥處方併用...
從西醫觀點論婦科腫瘤