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晶片層級元件充電模式與電路板層級元件充電模式靜電放電現象之分析與比較
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後設資料
資料識別:
A08062994
資料類型:
期刊論文
著作者:
蕭淵文 柯明道
主題與關鍵字:
靜電放電 晶片層級元件充電模式 電路板層級元件充電模式 故障分析 Electrostatic discharge ESD Chip-level charged device model Chip-level CDM Board-level charged device model Board-level CDM Failure analysis
描述:
來源期刊:電子月刊
卷期:14:5=154 2008.05[民97.05]
頁次:頁196-214
日期:
20080500
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
蕭淵文 柯明道(20080500)。[晶片層級元件充電模式與電路板層級元件充電模式靜電放電現象之分析與比較]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/ba/c9.html(2017/03/27瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/ba/c9.html
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