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閘極氧化層以鉿化合物取代二氧化矽之CMOS元件特性探討
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資料識別:
A08061838
資料類型:
期刊論文
著作者:
陳蕙質(Chen, H. Z.) 陳思羽(Chen, S. Y.) 劉允中(Liu, Y. Z.) 邱琦清(Qiu, Q. Q.) 朱明毅(Chu, M. I.) 譚湘瑜(Tan, S. Y.)
主題與關鍵字:
高介電層 鉿化合物 ISE-TCAD High-k dielectric FfO₂
描述:
來源期刊:華岡工程學報
卷期:22 2008.06[民97.06]
頁次:頁241-244
日期:
20080600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
陳蕙質(Chen, H. Z.) 陳思羽(Chen, S. Y.) 劉允中(Liu, Y. Z.) 邱琦清(Qiu, Q. Q.) 朱明毅(Chu, M. I.) 譚湘瑜(Tan, S. Y.)(20080600)。[閘極氧化層以鉿化合物取代二氧化矽之CMOS元件特性探討]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/b7/af.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/b7/af.html
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