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以矽化鎳作為閘極金屬層用在奈米級CMOS元件之特性探討
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資料識別:
A08061829
資料類型:
期刊論文
著作者:
陳人豪(Chen, R. H.) 陳昱全(Chen, Y. Q.) 陳書群(Chen, S. Q.) 劉立康(Liu, L. K.) 鄭百勝(Cheng, P. S.) 林佩洵(Lin, P. S.) 譚湘瑜(Tan, S. Y.)
主題與關鍵字:
矽化鎳 閘極介電層 ISE-TCAD Ni-FUSI Gate dielectric
描述:
來源期刊:華岡工程學報
卷期:22 2008.06[民97.06]
頁次:頁227-230
日期:
20080600
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
陳人豪(Chen, R. H.) 陳昱全(Chen, Y. Q.) 陳書群(Chen, S. Q.) 劉立康(Liu, L. K.) 鄭百勝(Cheng, P. S.) 林佩洵(Lin, P. S.) 譚湘瑜(Tan, S. Y.)(20080600)。[以矽化鎳作為閘極金屬層用在奈米級CMOS元件之特性探討]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/b7/a6.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3c/b7/a6.html
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