首頁
部落格
Facebook專頁
ENGLISH
珍藏特展
目錄導覽
技術體驗
成果網站資源
目錄導覽首頁
HOTKEY快速導覽
內容主題
典藏機構
進階搜尋
資源聯盟
首頁
目錄導覽
內容主題
新聞
國圖館藏期刊
首頁
目錄導覽
典藏機構與計畫
國家圖書館
國家圖書館期刊報紙典藏數位化計畫
BGA模組晶片和電路板的動態衝擊分析與測試驗證
推薦分享
資源連結
連結到原始資料
(您即將開啟新視窗離開本站)
後設資料
資料識別:
A08059547
資料類型:
期刊論文
著作者:
鄭根全(Cheng, K. C.) 黃健生(Huang, J. S.) 王阿成(Wang, A. C.)
主題與關鍵字:
Shock衝擊 電路板 有限元素法 BGA PCB Shock impact Ball grid array Printed circuit board Finite element method
描述:
來源期刊:先進工程學刊
卷期:3:3 2008.07[民97.07]
頁次:頁251-256
日期:
20080700
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
鄭根全(Cheng, K. C.) 黃健生(Huang, J. S.) 王阿成(Wang, A. C.)(20080700)。[BGA模組晶片和電路板的動態衝擊分析與測試驗證]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/f8/cd.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/f8/cd.html
評分與驗證
請為這筆數位資源評分
感謝您為這筆數位資源評分,為了讓資料更容易被檢索利用,請選擇和這項數位資源相關的詞彙:
有限元素法
有限元素
電路板
請填入更適合的關鍵詞
推薦藏品
比較中西抗老化藥材在神經退化性疾病之...
鉻磷酸鹽處理麻竹之保綠機制
如何妥善因應及減少慢性C型肝炎病患在...
硼含量對AlCoCrFe₂NiMo□...
金木水火土
遮陰對十八種適用綠籬植物葉片壽命之影...