Integrated Two Hopfield Neural Networks for Automatic LED Defect Inspection
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- 資料識別：
- A08048256
- 資料類型：
- 期刊論文
- 著作者：
- 張傳育(Chang， Chuan-yu) 張傳旺(Chang， Chuan-wang) 林思延(Lin， Si-yan) 鄭慕德(Jeng， Mu Der)
- 主題與關鍵字：
- Hopfield neural networks LED Defect inspection 晶圓 缺陷檢測 霍菲爾類神經網路
- 描述：
- 來源期刊:中國機械工程學刊
- 卷期:29:1 2008.02[民97.02]
- 頁次:頁45-51
- 日期：
- 20080200
- 來源：
- 臺灣期刊論文索引系統
- 管理權：
- 國家圖書館
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