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電遷移對銅原子在熔融Sn3.5Ag無鉛銲料中擴散行為之影響
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資料識別:
A08028464
資料類型:
期刊論文
著作者:
張建偉(Chang, C. W.) 黃建融(Huang, J. R.) 高振宏(Kao, C. R.)
主題與關鍵字:
電遷移 Sn3.5Ag Lead-free solder Electromigration
描述:
來源期刊:材料科學與工程
卷期:38:4 民95.12
頁次:頁206-212
日期:
20061200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
張建偉(Chang, C. W.) 黃建融(Huang, J. R.) 高振宏(Kao, C. R.)(20061200)。[電遷移對銅原子在熔融Sn3.5Ag無鉛銲料中擴散行為之影響]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/d7/a1.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/d7/a1.html
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