“次奈米級”電子能量損失光譜分析技術之開發

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資料識別:
A08014822
資料類型:
期刊論文
著作者:
羅聖全(Lo, S. C.) 林明為(Lin, M. W.) 陳淑貞(Chen, S. J.) 李世莉(Lee, S. R.) 林麗娟(Lin, L. J.)
主題與關鍵字:
場發射穿透式電子顯微鏡 電子能量損失光譜儀 超薄樣品製備技術 能譜影像 Field emission transmission electron microscopy FETEM Electron energy loss spectrometer EELS Ultra-thin sample preparation Spectrum-imaging
描述:
來源期刊:工業材料
卷期:254 2008.02[民97.02]
頁次:頁147-155
日期:
20080200
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館

授權聯絡窗口

管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305

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