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積體電路構裝製程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究
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後設資料
資料識別:
A08008788
資料類型:
期刊論文
著作者:
林宏達(Lin, Hong-dar) 朱達宏(Ju, Dar-hong)
主題與關鍵字:
參數設定研究 實驗設計 反應曲面技術 IC構裝製程 外觀不良檢測 電腦視覺系統 統計型I與型II誤差 Parameter setting Computer visual inspection Design of experiments Response surface techniques Statistical type I and type II errors IC package process
描述:
來源期刊:朝陽學報
卷期:4 民88.10
頁次:頁119-142
日期:
19991000
來源:
臺灣期刊論文索引系統
管理權:
國家圖書館
授權聯絡窗口
管理單位:知識服務組-期刊
聯絡E-mail:nclper@ncl.edu.tw
電話:02-23619132轉305
引用這筆典藏
引用資訊
林宏達(Lin, Hong-dar) 朱達宏(Ju, Dar-hong)(19991000)。[積體電路構裝製程中降低視覺檢測機器發生誤判之參數設定研究]。《數位典藏與數位學習聯合目錄》。http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/b8/28.html(2024/09/16瀏覽)。
直接連結
http://catalog.digitalarchives.tw/item/00/3b/b8/28.html
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